產品目錄
聯系方式
聯系人:朱經理
手機:15921165535
電話:86-021-58951071
傳真:86-021-50473901
地址:上海市浦東外高橋自貿區富特東三路526號5號樓311室
郵編:
網址:m.26seo.cn
郵箱:814294500@qq.com
什么會影響Magna-Mike 8600霍爾效應測厚儀精度
典型的范圍和精度
下圖顯示了標準目標的典型范圍和準確性。 更大的目標通常可以提供更大的測量范圍以及較薄測量的*精度。 選擇目標時應考慮以下因素:
材料的zui小曲率
zui大厚度測量
測量所需的精度
材料的壓縮性(較大或磁珠會壓縮材料,然后較小或無磁性靶球)
表面硬度:磁性目標球不會像滾動的非磁性靶球一樣沿著表面滑動。 使用磁珠時,用戶要小心,確保材料表面不會被磁性目標球劃傷。
一般來說,通過使用在測試件中自由移動的zui大目標球,將獲得的結果。
校準:霍爾效應儀器必須在使用前進行校準,使用與測量相同的探頭和靶標。這是通過無目標的讀數來實現的,目標接觸探針(零厚度),并在兩個或更多個參考厚度。這允許儀器產生一個校準表,其中繪制電壓變化與厚度的關系。校準將每個使用的目標與本機的內存查找表進行匹配。校準還可以測量目標可能位置的兩個極值(“球開”和“球關”),并將這些端點分配給查找表。已知厚度的附加校準點用于微調表格以獲得*精度。在操作過程中,每當探頭方向或環境溫度變化時,應進行校準。
MagnaMike 8600圖示目標球的自由運動:由于霍爾效應測量儀測量探頭和目標之間的距離,球的幾何阻塞將導致不準確的測量。類似地,探針必須與部件緊密接觸。當表面幾何形狀限制接觸面積時,應使用鑿點磨損帽。
附近的磁性物體和磁場:探頭不應用于鐵質材料,如碳鋼長凳,貨架,支架,支架,手表或首飾,或靠近電動機或類似的電磁干擾源。它應該保持至少8英寸(200毫米)從電腦。所有這些都會影響探頭的磁場,導致不準確的測量。當測量每個目標類型的zui大厚度附近時,這一點尤為重要。
探測方向:由于Magna-Mike 8600通過監測磁場的小變化來測量厚度,其校準過程包括對地球磁場的影響的自動補償。zui常見的是,探針以一個恒定的方向被保持在一個立場上。然而,在探針以不同的方向(例如水平保持)使用的情況下,或者當在掃描彎曲部分的外部方向改變時,必須更新校準。在Magna-Mike 8600中,Q-Cal功能用于進行此更正。當測量每個目標類型的zui大厚度附近時,這一點尤為重要。只需移除目標物并按住Q-Cal鍵,同時將探頭保持在所需的方向。
粗糙或垂直的測試表面:當探頭被掃描時,表面粗糙度或凹槽可導致目標球暫時掛起,從而增加表觀厚度。當使用探頭測量水平方向的垂直表面時,重力會導致目標球從探頭的中心線掉落。在這些情況下,MIN Capture模式應用于確保真實zui小厚度的測量。
導線目標:使用導線目標時,探針必須至少距離導線末端1英寸(25毫米)。在測量點,必須將電線牢固地按壓在測試片上,因為與任何其他目標一樣,麥格納 - 邁克實際上正在測量與目標的距離,而不是直徑的壁厚。必須保持探針和導線之間的角度對準(通常是垂直的),因為導線傾斜會影響讀數。電線目標不應扭曲或彎曲。
介紹:奧林巴斯Magna-Mike 8600霍爾效應測厚儀是小型,輕便的儀器,旨在對非磁性材料(如塑料,玻璃,復合材料,鋁和鈦)進行快速,準確和可重復的測量。奧林巴斯Magna-Mike 8600提供兩種類型的探頭,兩種類型的耐磨帽和四種類型的目標,以適應一系列厚度以及各種各樣的試樣幾何形狀。探頭類型 - 直角和直角探頭可用。 在探頭架上垂直固定的直式探頭zui常用于臺面檢查。 直角探頭設計用于部件幾何形狀限制訪問的情況,如在涉及有色鑄件的一些測試中。